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세부지표명(영문) | 세부지표명(국문) | 의미 | 산출방법 |
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Forward citations | 피인용지수 | 평가대상 특허보다 늦게 출원된 특허에 의해 인용된 횟수를 이용한 지표로, 일반적으로 기술의 영향력을 나타내며, 논문의 Impact Factor와 유사한 개념으로, 많이 피인용된 특허일수록 특허품질이 좋음을 의미한다. |
출원년도 및 기술분류별 청구항수, 피인용수, 패밀리특허수 데이터 중 상위 1%의 값과 하위 1%의 값을 제거한 후,
출원년도 및 기술분류별 최대값으로 개별특허의 청구항수, 피인용수, 패밀리 특허수를 각각 나누어 0~1의 값으로 정규화함. |
Family size | 패밀리 특허지수 |
평가대상특허와 우선권주장등으로 실질적으로 동일한 기술내용의 특허들이 출원된 국가수를 의미한다.
특허의 시장성을 반영하는 지표로, 패밀리 특허수가 많을 수록 특허의 시장성이 넓으며 그 만큼 좋은 특허로 받아들여진다. |
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Number of claims | 청구항지수 | 청구항수를 의미하며 기술에 대한 특허보호범위를 나타내며, 청구항수가 많을수록 특허품질이 좋음을 의미한다. | |
Generality index | 범용성 지수 | 기술의 영향을 미친 기술분야의 수를 의미하는 것으로,타 분야에 대한 기술확산력을 의미함 |
개별특허를 인용한 특허의 국제특허분류(IPC)를 활용하여 IPC수가 많으면 그 만큼 기술의 범용성이 크다고 판단한다.
IPC의 수가 1개일 경우 0, IPC가 많아질 수록 1에 가까워진다. |
Backward citations | 인용지수 | 평가대상 특허가 출원되기 전에 참고한 특허문헌을 이용한 지표로, 선행특허문헌이 많을 수록 특허의 품질이 높음을 의미한다. |
출원년도 및 기술분류별 인용수 중 상위 1%의 값과 하위 1%의 값을 제거한 후,
출원년도 및 기술분류별 최대값으로 개별특허의 인용수를 나누어 0~1의 값으로 정규화함. |
Grant lag | 특허등록소요기간 | 특허가 출원되어 등록될 때까지의 기간을 의미하며, 일반적으로 빨리 등록될수록 특허기술이 우수함을 의미한다. |
출원년도 및 기술분류별 등록소요기간 중 상위 1%의 값과 하위 1%의 값을 제거한 후,
: 1 – (등록소요기간/ 등록소요기간의 최대값)을 의미함. |
PQI index | 특허품질지수 | 정규화된 각 지표의 가중치없이 합산한 OECD가 개발한 특허품질지수 산출방법 |
각 지표는 정규화되며, 가중치는 1로 동일
한국/미국: (Family size+Grant lag+Number of claims+Backward citation+Grant lag) 일본: (Family size+Grant lag+Number of claims) |